SJ 50033.6-1994 半导体分立器件.GP和GT级GF 411型半导体绿色发光二极管详细规范
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ID： |
9EEF9FE4F85B47A60018009ECAFF8359 |
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文件大小(MB)： |
0.44 |
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10 |
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日期： |
2024-7-28 |
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SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/6-94,半导体分立器件,GP和GT级GF 411型半导体绿色,发光二极管详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for semiconductor light green emitting,diodes for type GF 411 of GP and GT classes,1994-09-3。发布1994-12-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,下载,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,GP和GT级GF 411型半导体绿色,发光二极管详细规范,Semiconductor discret device,Detail specification for semiconductor green light emitting,diodes for type GF 411 of GP and GT classes,SJ 50033/6-94,1范围,1.1主题内容,本规范规定r GF 411型半导体绿色发光二极管的详细要求,该种器件按照GJB 33《半导,体分立器件总规范》的规定,提供产品保证的二个等级(GP和GT级),丒外形尺寸,见图!o,1.3最大额定值,厶［ぐ几メp 3；,r FM Top 兀丒,mA mA(pk) A(pk),V,1K〒1即A,mW(pk) C ，c,35 1 60 1.0 5 120 —55,~-100 —55 .100,注:1)脉冲宽度0. 5ms,且<几".,2)牀冲宽度1バ,每秒300个脉冲(300pps),3)7\ >50C时按1. 6mW./で綫性地降额.,1.4主要光特性和电特性(7a = 25 C),h,(mA),Fvi,(med),7V金,(med),%,(V),4,(nm),9,(pF),/r,SA),人-25mA ハア25mA,0 =30&,/F — 25mA,Vr =0,Vr = 3V,典型值最小值最小值最大值最小值最大值最大值最大值,25 0. 8 0. 40 3. 0 545 575 100 1,中华人民共和国电子工业部199牛09-30发布1994-12-01 实施,1,sj 50033/6—94,2引用文件,下列文件的有效版本,在本规范规定的范围内,构成本规范的一部分,GJB 33 半导体分立器件总规范,GJB 128 半导体分立器件试验方法,SJ 2355.1.5J 2355* 7半导体发光器件测试方法,SJ/Z 9014. 2 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件,3要求,3.1 概述,各条要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 缩写、符号和定义,本规范使用的缩写、符号和定义应符合GJB 33,SJ/Z 9014.2和下列的规定丒,八，一发光强度,ん，--发光二极管峰值福射波氏,ム——正向脉冲峰值工作电流,&—正向瞬态峰值电流,8—以光源对称轴为中心轴的立体角,在该角内测量光强.,LED—发光二极管,3.3 设计、结构和外形尺寸,LED的设计、结构和外形尺寸如图1所示,3.3.1 半导体芯片材料,芯片结构材料为磷化緑（G&P）,3.3.2 引线涂层,弓嚴涂层应镀金,也可按照合同规定（见6. 2）镀锡,3. 3.3引线长度,当要求器件直接用于专用设备电路的安装或自动装配技术程序时,可按合同的规定（见,6. 2）提供引线艮度不同于图1规定的器件.,314性能特性,性能特性应符合表1,2.3和5的规定（.表5仅适用于“GT”级器件）,3.5标忐,制造厂有权选择将GJB 33中规定的下列标志从管体上省略,a.制造厂的识别,4质量保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验应包括表1.2和3中规定的检验和试验,-2 —,SJ 50033/6-94,4.3 筛选（仅对GT级）,GT级器件应按表5中规定的步骤和条件进行百分之百的检验,批中所有器件都应进行表5中ん、八和/三个参数的测试,并将测试结果记录下来.所有,器件都应做识别标志,以便老化试验后做△参数的最终测试,老化前经密封试验或1v、厶和,参数测试失效的器件应从批中剔除,且在批记录中记录下剔除的失效器件数和型号。老化后超,过△极限值的所有器件应从批中剔除,且在批记录中记录下剔除的失效器件数。如果老化后,有百分之十或更多的器件失效,则整个批不能做为GT级器件,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应包括A、B和C组中规定的检验和试验,以及下面的规定,4.4.1 如果制造厂选择下面的方法做试验,那么应在做相应的B蛆试验之前,指定C组检脸,中使用的样品,而且计算c组检验接收或拒收的失效器件数应等于B组检验屮指定继续做c,组检验的祥拓中出现的失效器件数加上C组检验中出现的失效器件数,a丒在做C组检验中的每ー项寿命试验时,制造厂有权选择将已经过3Mh B组寿命试験,的全部或部分样品再进行660h的寿命试脸,以满足C组寿命试验100Oh的要求,.b.在做C组检验中的热冲击（温度循环）试验时,制造厂冇权选择将已经过10次循环,的B组热冲击试验的全部样品或部分样品再进行15次循环，以满足C组试验25次循环的要,求,414.2 C组检验应在初始批时开始进行,然后在生产过程中每隔6个月进行ー丒次,如果合同中已作规定（见6. 2）,那么制造厂应将质量一致性检验数据连同产品ー起提供,4.5检脸和试验方法,检验和试验方法按表1、2、3和4的规定,并对另外一些细节作如下规……
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